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高分子薄膜の三次元物性解析 2010.06.16

【工学系 先導物質化学研究所 分子集積化学部門】
高原 淳研究者情報
図1)
【 研究概要 】 斜め切削法(SAICAS)により調製した二種類の高分子からなる薄膜の走査フォース顕微鏡観察の結果、薄膜の厚み方向の物性分布評価を可能にした。右図の物性像の明るい部分と暗い部分がそれぞれの種類の高分子に対応している。高分子薄膜の表面部から基板界面にかけての2種類の高分子の分布状態が明確に観察されている。モデル図に示したように1成分が基板界面に集まっている様子も確認される。 【 関連キーワード 】 SAICAS | 走査フォース顕微鏡 【 関連URL 】  http://takahara.ifoc.kyushu-u.ac.jp/

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